Patents

Patents progress: Total 47 (KR Registration: 18, KR Application: 16, PCT Application: 6, US Registration: 2, US Application: 5)

Patent list
No Nation Progress Date Patent
1 KR Registered 2017.11.28. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
2 KR Registered 2018.03.02. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
3 KR Registered 2018.05.09. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
4 KR Registered 2018.09.10. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
5 KR Registered 2019.06.11. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
6 KR Registered 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
7 KR Registered 2020.03.09. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
8 KR Registered 2020.03.17. 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
9 KR Registered 2020.03.20. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
10 KR Registered 2020.08.25. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
11 KR Registered 2020.11.04. 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템
12 KR Registered 2020.12.04. 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
13 KR Registered 2020.12.17. 복원된 홀로그램을 이용하여 공정상의 결함을 판단하는 방법
14 KR Registered 2020.12.17. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
15 KR Registered 2021.01.07. 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
16 KR Registered 2021.01.07. 기판 검사 장치
17 KR Registered 2021.02.08. 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검사 시스템
18 KR Registered 2021.02.25. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
19 KR Applicated 2017.12.15. 결함 검출 방법 및 장치
20 KR Applicated 2018.03.09. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
21 KR Applicated 2018.03.09. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
22 KR Applicated 2018.08.13. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
23 KR Applicated 2019.11.25. 결함 검출 방법 및 장치
24 KR Applicated 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
25 KR Applicated 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
26 KR Applicated 2020.03.16. 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
27 KR Applicated 2020.03.19. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
28 KR Applicated 2020.08.25. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
29 KR Applicated 2020.11.03. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
30 KR Applicated 2020.12.04. 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
31 KR Applicated 2020.12.16. 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템
32 KR Applicated 2020.12.16. 복원된 홀로그램을 이용하여 공정 상의 결함을 판단하는 방법
33 KR Applicated 2021.01.06. 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
34 KR Applicated 2021.02.25. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
35 US Registered 2020.02.18. DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
36 US Registered 2020.11.24. DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
37 US Applicated 2018.09.06. AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
38 US Applicated 2018.09.06. AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
39 US Applicated 2018.10.29. AN ON-AXIS AND OFF-AXIS DIGITAL HOLOGRAM GENERATING DEVICE AND METHOD
40 US Applicated 2020.02.25. HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD
41 US Applicated 2020.06.03. METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE
42 PCT Applicated 2017.10.20. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
43 PCT Applicated 2017.11.21. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
44 PCT Applicated 2017.12.04. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
45 PCT Applicated 2017.12.04. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
46 PCT Applicated 2017.12.04. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
47 PCT Applicated 2018.10.26. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법, 결함 검출 방법 및 결함 검출 장치


Trademarks


Trademark progress: Total 4 (KR Registration: 4)

Trademark list
No Nation Progress Date Tradmark
1 KR Registered 2016.11.10. 내일해
2 KR Registered 2016.11.10. NAEILHAE
3 KR Registered 2016.11.10. NAEILHAE Logo 이미지
4 KR Registered 2018.06.15. Inspecscopy