Patents progress: Total 47 (KR Registration: 18, KR Application: 16, PCT Application: 6, US Registration: 2, US Application: 5)
No | Nation | Progress | Date | Patent |
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1 | KR | Registered | 2017.11.28. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
2 | KR | Registered | 2018.03.02. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
3 | KR | Registered | 2018.05.09. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
4 | KR | Registered | 2018.09.10. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
5 | KR | Registered | 2019.06.11. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
6 | KR | Registered | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
7 | KR | Registered | 2020.03.09. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
8 | KR | Registered | 2020.03.17. | 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
9 | KR | Registered | 2020.03.20. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
10 | KR | Registered | 2020.08.25. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
11 | KR | Registered | 2020.11.04. | 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템 |
12 | KR | Registered | 2020.12.04. | 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
13 | KR | Registered | 2020.12.17. | 복원된 홀로그램을 이용하여 공정상의 결함을 판단하는 방법 |
14 | KR | Registered | 2020.12.17. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
15 | KR | Registered | 2021.01.07. | 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치 |
16 | KR | Registered | 2021.01.07. | 기판 검사 장치 |
17 | KR | Registered | 2021.02.08. | 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검사 시스템 |
18 | KR | Registered | 2021.02.25. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
19 | KR | Applicated | 2017.12.15. | 결함 검출 방법 및 장치 |
20 | KR | Applicated | 2018.03.09. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
21 | KR | Applicated | 2018.03.09. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
22 | KR | Applicated | 2018.08.13. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
23 | KR | Applicated | 2019.11.25. | 결함 검출 방법 및 장치 |
24 | KR | Applicated | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
25 | KR | Applicated | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
26 | KR | Applicated | 2020.03.16. | 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
27 | KR | Applicated | 2020.03.19. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
28 | KR | Applicated | 2020.08.25. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
29 | KR | Applicated | 2020.11.03. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
30 | KR | Applicated | 2020.12.04. | 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
31 | KR | Applicated | 2020.12.16. | 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템 |
32 | KR | Applicated | 2020.12.16. | 복원된 홀로그램을 이용하여 공정 상의 결함을 판단하는 방법 |
33 | KR | Applicated | 2021.01.06. | 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치 |
34 | KR | Applicated | 2021.02.25. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
35 | US | Registered | 2020.02.18. | DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD |
36 | US | Registered | 2020.11.24. | DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD |
37 | US | Applicated | 2018.09.06. | AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD |
38 | US | Applicated | 2018.09.06. | AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD |
39 | US | Applicated | 2018.10.29. | AN ON-AXIS AND OFF-AXIS DIGITAL HOLOGRAM GENERATING DEVICE AND METHOD |
40 | US | Applicated | 2020.02.25. | HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD |
41 | US | Applicated | 2020.06.03. | METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE |
42 | PCT | Applicated | 2017.10.20. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
43 | PCT | Applicated | 2017.11.21. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
44 | PCT | Applicated | 2017.12.04. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
45 | PCT | Applicated | 2017.12.04. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
46 | PCT | Applicated | 2017.12.04. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
47 | PCT | Applicated | 2018.10.26. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법, 결함 검출 방법 및 결함 검출 장치 |
Trademark progress: Total 4 (KR Registration: 4)
No | Nation | Progress | Date | Tradmark |
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1 | KR | Registered | 2016.11.10. | 내일해 |
2 | KR | Registered | 2016.11.10. | NAEILHAE |
3 | KR | Registered | 2016.11.10. | NAEILHAE Logo 이미지 |
4 | KR | Registered | 2018.06.15. | Inspecscopy |