특허 현황


보유 특허 현황: Total 47건 (국내 등록: 18건, 국내 출원: 16건, PCT 출원: 6건, 미국 등록: 2건, 미국 출원: 5건)

특허 현황표
연번 출원/등록국가 진행상황 출원/동록일자 지적재산권명
1 한국 등록 2017.11.28. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
2 한국 등록 2018.03.02. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
3 한국 등록 2018.05.09. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
4 한국 등록 2018.09.10. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
5 한국 등록 2019.06.11. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
6 한국 등록 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
7 한국 등록 2020.03.09. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
8 한국 등록 2020.03.17. 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
9 한국 등록 2020.03.20. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
10 한국 등록 2020.08.25. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
11 한국 등록 2020.11.04. 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템
12 한국 등록 2020.12.04. 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
13 한국 등록 2020.12.17. 복원된 홀로그램을 이용하여 공정상의 결함을 판단하는 방법
14 한국 등록 2020.12.17. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
15 한국 등록 2021.01.07. 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
16 한국 등록 2021.01.07. 기판 검사 장치
17 한국 등록 2021.02.08. 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검사 시스템
18 한국 등록 2021.02.25. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
19 한국 출원 2017.12.15. 결함 검출 방법 및 장치
20 한국 출원 2018.03.09. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
21 한국 출원 2018.03.09. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
22 한국 출원 2018.08.13. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
23 한국 출원 2019.11.25. 결함 검출 방법 및 장치
24 한국 출원 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
25 한국 출원 2019.12.06. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
26 한국 출원 2020.03.16. 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
27 한국 출원 2020.03.19. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
28 한국 출원 2020.08.25. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
29 한국 출원 2020.11.03. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
30 한국 출원 2020.12.04. 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
31 한국 출원 2020.12.16. 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템
32 한국 출원 2020.12.16. 복원된 홀로그램을 이용하여 공정 상의 결함을 판단하는 방법
33 한국 출원 2021.01.06. 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
34 한국 출원 2021.02.25. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
35 미국 등록 2020.02.18. DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
36 미국 등록 2020.11.24. DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
37 미국 출원 2018.09.06. AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
38 미국 출원 2018.09.06. AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
39 미국 출원 2018.10.29. AN ON-AXIS AND OFF-AXIS DIGITAL HOLOGRAM GENERATING DEVICE AND METHOD
40 미국 출원 2020.02.25. HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD
41 미국 출원 2020.06.03. METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE
42 PCT 출원 2017.10.20. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
43 PCT 출원 2017.11.21. 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
44 PCT 출원 2017.12.04. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
45 PCT 출원 2017.12.04. 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
46 PCT 출원 2017.12.04. 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
47 PCT 출원 2018.10.26. 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법, 결함 검출 방법 및 결함 검출 장치


상표권 현황


보유 상표권 현황: Total 4건 (국내 등록: 4건)

상표권 현황표
연번 출원/등록국가 진행상황 출원/동록일자 상표권명
1 국내 등록 2016.11.10. 내일해
2 국내 등록 2016.11.10. NAEILHAE
3 국내 등록 2016.11.10. NAEILHAE Logo 이미지
4 국내 등록 2018.06.15. Inspecscopy