보유 특허 현황: Total 47건 (국내 등록: 18건, 국내 출원: 16건, PCT 출원: 6건, 미국 등록: 2건, 미국 출원: 5건)
연번 | 출원/등록국가 | 진행상황 | 출원/동록일자 | 지적재산권명 |
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1 | 한국 | 등록 | 2017.11.28. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
2 | 한국 | 등록 | 2018.03.02. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
3 | 한국 | 등록 | 2018.05.09. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
4 | 한국 | 등록 | 2018.09.10. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
5 | 한국 | 등록 | 2019.06.11. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
6 | 한국 | 등록 | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
7 | 한국 | 등록 | 2020.03.09. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
8 | 한국 | 등록 | 2020.03.17. | 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
9 | 한국 | 등록 | 2020.03.20. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
10 | 한국 | 등록 | 2020.08.25. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
11 | 한국 | 등록 | 2020.11.04. | 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템 |
12 | 한국 | 등록 | 2020.12.04. | 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
13 | 한국 | 등록 | 2020.12.17. | 복원된 홀로그램을 이용하여 공정상의 결함을 판단하는 방법 |
14 | 한국 | 등록 | 2020.12.17. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
15 | 한국 | 등록 | 2021.01.07. | 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치 |
16 | 한국 | 등록 | 2021.01.07. | 기판 검사 장치 |
17 | 한국 | 등록 | 2021.02.08. | 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검사 시스템 |
18 | 한국 | 등록 | 2021.02.25. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
19 | 한국 | 출원 | 2017.12.15. | 결함 검출 방법 및 장치 |
20 | 한국 | 출원 | 2018.03.09. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
21 | 한국 | 출원 | 2018.03.09. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
22 | 한국 | 출원 | 2018.08.13. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
23 | 한국 | 출원 | 2019.11.25. | 결함 검출 방법 및 장치 |
24 | 한국 | 출원 | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
25 | 한국 | 출원 | 2019.12.06. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
26 | 한국 | 출원 | 2020.03.16. | 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법 |
27 | 한국 | 출원 | 2020.03.19. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
28 | 한국 | 출원 | 2020.08.25. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
29 | 한국 | 출원 | 2020.11.03. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치 |
30 | 한국 | 출원 | 2020.12.04. | 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법 |
31 | 한국 | 출원 | 2020.12.16. | 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템 |
32 | 한국 | 출원 | 2020.12.16. | 복원된 홀로그램을 이용하여 공정 상의 결함을 판단하는 방법 |
33 | 한국 | 출원 | 2021.01.06. | 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치 |
34 | 한국 | 출원 | 2021.02.25. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
35 | 미국 | 등록 | 2020.02.18. | DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD |
36 | 미국 | 등록 | 2020.11.24. | DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD |
37 | 미국 | 출원 | 2018.09.06. | AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD |
38 | 미국 | 출원 | 2018.09.06. | AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD |
39 | 미국 | 출원 | 2018.10.29. | AN ON-AXIS AND OFF-AXIS DIGITAL HOLOGRAM GENERATING DEVICE AND METHOD |
40 | 미국 | 출원 | 2020.02.25. | HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD |
41 | 미국 | 출원 | 2020.06.03. | METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE |
42 | PCT | 출원 | 2017.10.20. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
43 | PCT | 출원 | 2017.11.21. | 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
44 | PCT | 출원 | 2017.12.04. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
45 | PCT | 출원 | 2017.12.04. | 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법 |
46 | PCT | 출원 | 2017.12.04. | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 |
47 | PCT | 출원 | 2018.10.26. | 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법, 결함 검출 방법 및 결함 검출 장치 |
보유 상표권 현황: Total 4건 (국내 등록: 4건)
연번 | 출원/등록국가 | 진행상황 | 출원/동록일자 | 상표권명 |
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1 | 국내 | 등록 | 2016.11.10. | 내일해 |
2 | 국내 | 등록 | 2016.11.10. | NAEILHAE |
3 | 국내 | 등록 | 2016.11.10. | NAEILHAE Logo 이미지 |
4 | 국내 | 등록 | 2018.06.15. | Inspecscopy |