특허 현황


보유 특허 현황: Total 51건 (국내 등록: 33건, 국내 출원: 3건, PCT 출원: 6건, 미국 등록: 7건, 미국 출원: 2건)

특허 현황표
연번 출원/등록국가 진행상황 지적재산권명
1 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
2 한국 등록 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
3 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
4 한국 등록 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
5 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
6 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
7 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
8 한국 등록 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
9 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
10 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
11 한국 등록 복원된 홀로그램을 이용하여 공정상의 결함을 판단하는 방법
12 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
13 한국 등록 홀로그래픽 복원을 이용한 불량 검사 시스템
14 한국 등록 노이즈 레벨을 차감한 주파수 성분을 기초로 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
15 한국 등록 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
16 한국 등록 기판 검사 장치
17 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
18 한국 등록 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검사 시스템
19 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
20 한국 등록 결함 검출 방법 및 장치
21 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
22 한국 등록 정축 및 탈출 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
23 한국 등록 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
24 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
25 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
26 한국 등록 측정 대상 물체의 주파수 성분에 포함된 노이즈를 제거하여 3차원 형상 정보를 생성하는 방법
27 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
28 한국 등록 노이즈 레벨을차감한 주파수 성분을 기초로 측정대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
29 한국 등록 복원된 홀로그램을 이용하여 공정 상의 결함을 판단하는 방법
30 한국 등록 스캐닝 기능을 포함하는 기판 검사 장치
31 한국 등록 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
32 한국 등록 기판 검사 장치
33 한국 등록 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 방법
34 한국 출원 결함 검출 방법 및 장치
35 한국 출원 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보 생성 장치
36 한국 출원 홀로그래픽 복원을 이용한 인-라인 증착 검착 시스템
37 미국 등록 DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
38 미국 등록 DIGITAL HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD USING SINGLE GENERATED PHASE SHIFTING METHOD
39 미국 등록 AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
40 미국 등록 AN IMPROVED HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION APPARATUS AND METHOD
41 미국 등록 AN ON-AXIS AND OFF-AXIS DIGITAL HOLOGRAM GENERATING DEVICE AND METHOD
42 미국 등록 HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD
43 미국 등록 METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE
44 미국 출원 METTHOD FOR GENERATING THREE-DIMENSIONAL SHAPE INFORMATION OF OBJECT TO BE MEASURE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION DEVICE
45 미국 출원 HOLOGRAPHIC RECONSTRUCTION DEVICE AND METHOD
46 PCT 출원 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
47 PCT 출원 단일 생성 위상 천이 기법을 이용한 디지털 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
48 PCT 출원 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
49 PCT 출원 정축 및 탈축 디지털 홀로그램 생성 장치 및 방법
50 PCT 출원 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법
51 PCT 출원 측정 대상 물체의 3차원 형상 정보를 생성하는 방법, 결함 검출 방법 및 결함 검출 장치


상표권 현황


보유 상표권 현황: Total 4건 (국내 등록: 4건)

상표권 현황표
연번 출원/등록국가 진행상황 상표권명
1 국내 등록 내일해
2 국내 등록 NAEILHAE
3 국내 등록 NAEILHAE Logo 이미지
4 국내 등록 Inspecscopy